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侧颅X光（Lateral Cephalometric X-ray）

侧位头影X光（lateral cephalometric X-ray）是一种特殊的牙科X光，能够捕捉头部的侧面视图，包括牙齿、下颌和面部结构。
主要特点：

侧面视图：提供清晰的头部侧面图像，显示牙齿和下颌的排列。
目的：
- 诊断：帮助识别正畸问题，如深覆合、反合和下颌不对称。

好处：

详细分析：提供评估牙齿和面部关系的重要信息。
非侵入性：过程快速且通常无痛。
指导治疗：有助于制定个性化的正畸治疗计划。

辐射暴露极少，但仍被认为在诊断中是安全的。

Dental X-ray Johor Jaya Braces X-Ray

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